PEMTRON 3D AOI 采用的是结构光-相位轮廓测量技术。PEMTRON在锡膏检测系统 中已经应用超过10年，是十分成熟且稳定，并具有先进性及有效性的技术。
将密集且均匀的相位条纹投射在被测部件表面
光栅条纹会随着表面不同的深度发生畸变
条纹移动表面不同的深度畸变也发生变化
采用8+2相位条纹投射全方位捕捉细微畸变
相机抓取相位条纹信息进行调制
获取部件表面调制信息
被测部件的条纹调制和参考面条纹调制对比
计算部件和基准几何关系得到高度差和深度信息
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